北京冠测微粒测控技术有限公司

· 产品详情

GCTX-2000A/B图像颗粒分析系统是北京冠测精电仪器有限公司研制的图像法粒度分布测试以及颗粒型貌分析等多功能颗粒分析系统，该系统包括光学显微镜、数字CCD摄像头、图像处理与分析软件、电脑、打印机等部分组成。仪器分二种型号，技术原理、参数都相同，GCTX-2000A型颗粒图像分析仪配置透射显微镜，GCTX-2000B型颗粒图像分析仪配置透反射显微镜，后者还可用于陶瓷、金属等各种不透光物体表面晶形的观察分析。它是将传统的显微测量方法与现代的图像处理技术结合的产物。基本工作流程是通过专用数字摄像头和显微镜，将颗粒图像拍摄下来并传输到电脑中，用专门的颗粒图像分析软件对图像进行处理与分析，通过显示器和打印机输出分析结果。本系统具有直观、形象、准确、测试范围宽以及自动识别、自动统计、自动标定等特点，不仅可以用来观察颗粒形貌，还可以得到粒度分布、长径比等指标，为科研、生产领域增添了一种新的粒度测试手段。

一、指标与性能
1、测试范围： 1-3000μm。
2、系统放大倍数：4000倍。
3、**分辨率：0.1μm。
4、重复性误差：<3%（不包含样品制备因素造成的误差）。
5、数字摄像头(CCD)：500万像素。
6、显微镜：国产生物显微镜、进口生物显微镜、金相显微镜。
7、标尺刻度：10μm。
8、分析项目：粒度分布、长径比分布、圆形度分布等。
9、自动分割速度：< 1秒。
10、分割成功率：> 93% 。
11、软件运行环境：Windows 2000、Windows XP。
12、接口方式：RS232或USB方式。

二、适用领域
1、研磨材料：金刚石、碳化硅、碳化硼、白刚玉、氧化铈等。
2、电池材料：球形石墨、钴酸锂等。
3、用于验证其他粒度测试的手段和方法。

三、测试原理
通过对颗粒数量和每个颗粒所包含的像素数量的统计，计算出每个颗粒的等圆面积和等球体积，从而得到颗粒的等圆面积直径、等球体积直径以及长径比等，再对所有的颗粒进行统计，从而得到粒度分布等信息。

四、功能强大的图像处理与分析软件
1、图像处理功能：可以对图像进行灰度转换、颜色转换、自动分割、删除、旋转、平滑、剪切、粘贴、滤波、缩放、填充等处理。也可以对多幅图形进行批量处理，提高样品的代表性，是处理结果更加准确、真实、可靠。
2、数据处理功能：通过对图像进行处理后，电脑就自动统计出颗粒数、面积、体积、直径、圆形度分布、长径比分布以及粒度分布数据与图形。
3、打印功能：可以打印包含原始图像的中英文两种格式的各种分析结果报告(包括粒度分布数据、分布图形、颗粒数、长径比等)。

北京冠测微粒测控技术有限公司是中国**的粉体、纳米、微粒研究测试机构，专注于粉体颗粒材料检测分析技术的自动化、试验方法的创新和新技术的应用。

业务范围：精密科研仪器、质量检测仪器研发生产，同时还承接检测服务，适用于科研院所、生产企业科研及质量检测等

中国微粒纳米研究测试中心

公司名称：北京冠测微粒测控技术有限公司

公司地址：北京市中关村昌平科技园区

联系方式：010-57462905  56190449

联系手机：15311714255

**网址：www.bettest.cn